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Ulsan Univ. Repository
Browsing by 키워드 : interfacial trap density (Dit)
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전체 결과 1건 중 1-1 번을 표시중입니다.
1
Article
Instability in In0.7Ga0.3As Quantum-Well MOSFETs with Single-layer Al2O3 and Bi-layer Al2O3/HfO2 Gate Stacks Caused by Charge Trapping under Positive Bias Temperature (PBT) Stress
권혁민
;
김대현
;
김태우
;
et al
2020
1
Anonymous
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