강유전 세라믹의 전기장 인가에 따른 in situ X-선 회절 실험
- Alternative Title
- In situ Electric-Field-Dependent X-Ray Diffraction Experiments for Ferroelectric Ceramics
- Abstract
- 기능성 소재연구에서 in situ 분석 기법은 외부 자극 (전기장, 자기장, 빛, 등) 또는 주변 환경 (온도, 습도, 압력, 등)과 같이 주어진 자극에 의해 소재의 물리적 특성이 어떻게 활성화/진화되는지 분석하는데 있어서 매우 중요하다. 특히, 전기장 인가에 따른 in situ X-선 회절(XRD) 실험은 다양한 강유전체, 압전체, 전왜 재료의 외부 전기장 인가에 따른 전기-기계적 반응의 기본 원리를 이해하기 위해 광범위하게 활용되었다. 본 튜토리얼 논문에서는 일반 실험실 규모의 XRD 장비를 이용하여 전기장 인가에 따른 in situ XRD 분석의 기본 원리/핵심 개념을 간략하게 소개한다. In situ XRD 측정법은 외부 전기장을 인가하여 구동되는 다양한 전기-기계 재료의 구조적 변형을 체계적으로 식별/모니터링하는 데 매우 유용할 것으로 기대한다.
In functional materials, in situ experimental techniques as a function of external stimulus (e.g., electric field, magnetic field, light, etc.) or changes in ambient environments (e.g., temperature, humidity, pressure, etc.) are highly essential for analyzing how the physical properties of target materials are activated/evolved by the given stimulation. In particular, in situ electric-field-dependent X-ray diffraction (XRD) measurements have been extensively utilized for understanding the underlying mechanisms of the emerging electromechanical responses to external electric field in various ferroelectric, piezoelectric, and electrostrictive materials. This tutorial article briefly introduces basic principles/key concepts of in situ electric-field-dependent XRD analysis using a lab-scale XRD machine. We anticipate that the in situ XRD method provides a practical tool to systematically identify/monitor a structural modification of various electromechanical materials driven by applying an external electric field.
- Author(s)
- 최진산; 김태헌; 안창원
- Issued Date
- 2022
- Type
- Article
- Keyword
- in situ X-선 회절; 전계 유도 변형; 상전이; 강유전; In situ X-ray diffraction; Electric-field-induced strain; Phase transition; Ferroelectric
- DOI
- 10.4313/JKEM.2022.35.5.2
- URI
- https://oak.ulsan.ac.kr/handle/2021.oak/13368
- Publisher
- 전기전자재료학회논문지
- Language
- 한국어
- ISSN
- 1226-7945
- Citation Volume
- 35
- Citation Number
- 5
- Citation Start Page
- 431
- Citation End Page
- 438
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Appears in Collections:
- Natural Science > Physics
- 공개 및 라이선스
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- 파일 목록
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