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1 Article A quantitative approach for trap analysis between Al0.25Ga0.75N and GaN in high electron mobility transistors 김재무 ; 김태우 ; 박경호 ; et al 2021
2 Article Characterization of Electrical Traps Formed in Al2O3 under Various ALD Conditions 김태우 ; 라흐만 엠디 마무누르 ; 신기용 2020

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